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半導体関連製品

シリコンウェハー測定

新開発のユニークな加圧プレス機構と特別な結晶により容易に良好な結果が得られ、再現性の高いシリコンウェハーの表面測定が行えます。

ガスセル

高いパフォーマンス、信頼性、扱い易さおよび適応性を持ち、多種のFT-IRや赤外分光器のガスサンプリングに応じた幅広いレンジを持ったガスセルです。